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        USM33厚度測量

        USM33厚度測量  

        ·精密厚度測量:可根據每一個回波信號的波峰值精準地測量聲程差,分辨率高達0.01mm 

        ·腐蝕壁厚測量:采用雙晶探頭檢測受腐蝕工件的壁厚,可以同時顯示讀數和A掃描顯示,極大增強了檢測可靠性 

        ·鍛壓件的檢測:檢測細小晶粒工件和大型工件時,可以優化設置脈沖重復頻率,以消除幻影波形 

        ·特種材料的檢測:采用低至500kHz的低頻探頭,可穿透高衰減材料和復合材料。將USM33探傷儀配合  BENCHMARK COMPOSITE復合材料晶片探頭使用,在對聲散強的材料(玻璃、碳纖維增強塑料、復合材料或者合金)進行檢測時,
          性噪比有顯著的提高
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